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胶态硅石检测

检测项目

1. 粒径分布:采用动态光散射法测定10-500 nm范围内的D10/D50/D90值

2. 比表面积:BET法测量50-400 m²/g范围内的吸附特性

3. pH值:水分散体系(浓度5%)的酸碱度测试范围3.0-9.0

4. 二氧化硅纯度:XRF法测定SiO₂含量≥99.5%

5. 粘度特性:旋转粘度计测试25℃下1-5000 mPa·s的流变性能

6. 灼烧减量:马弗炉950℃煅烧后质量损失≤2.0%

7. 重金属残留:ICP-MS法检测As/Pb/Cd/Hg总量≤10 ppm

检测范围

1. 涂料添加剂:改善流平性与耐磨性的纳米级胶态硅石

2. 电子封装材料:高纯度半导体用球形硅微粉

3. 医药辅料:符合USP/EP标准的片剂崩解剂

4. 化妆品原料:防晒剂及粘度调节用表面改性硅石

5. 橡胶塑料填料:提升力学性能的疏水型气相二氧化硅

6. 陶瓷前驱体:精密铸造用高分散性硅溶胶

检测方法

1. ASTM E2865-12:动态光散射法测定胶体颗粒尺寸分布

2. ISO 18757:2003:BET氮吸附法测定比表面积

3. GB/T 9724-2007:pH计法测定水溶液酸碱度

4. GB/T 19591-2004:X射线荧光光谱法测定二氧化硅含量

5. ISO 2555:2018:旋转粘度计法测试非牛顿流体粘度

6. GB/T 6284-2016:高温灼烧法测定挥发性物质含量

7. GB/T 30419-2013:电感耦合等离子体质谱法分析重金属

检测设备

1. Malvern Mastersizer 3000:激光衍射粒度分析仪(测量范围0.01-3500 μm)

2. Micromeritics ASAP 2460:全自动比表面及孔隙度分析仪(精度±1%)

3. Mettler Toledo SevenExcellence pH计:高精度电极(分辨率0.001 pH)

4. Shimadzu EDX-8000 XRF光谱仪:元素分析范围Na-U(检出限1 ppm)

5. Brookfield DV2T粘度计:锥板测量系统(扭矩范围0-100%)

6. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS:多元素同步分析(检出限ppt级)

7. Netzsch STA 449F3同步热分析仪:TG-DSC联用(温度范围25-1600℃)

8. Agilent Cary 630 FTIR光谱仪:ATR附件快速表征表面基团

9. JEOL JEM-2100F透射电镜:纳米级形貌观测(分辨率0.19 nm)

10. Sartorius MA35水分测定仪:卤素灯加热(精度0.001 g)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

胶态硅石检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。