胶态硅石检测
检测项目
1. 粒径分布:采用动态光散射法测定10-500 nm范围内的D10/D50/D90值
2. 比表面积:BET法测量50-400 m²/g范围内的吸附特性
3. pH值:水分散体系(浓度5%)的酸碱度测试范围3.0-9.0
4. 二氧化硅纯度:XRF法测定SiO₂含量≥99.5%
5. 粘度特性:旋转粘度计测试25℃下1-5000 mPa·s的流变性能
6. 灼烧减量:马弗炉950℃煅烧后质量损失≤2.0%
7. 重金属残留:ICP-MS法检测As/Pb/Cd/Hg总量≤10 ppm
检测范围
1. 涂料添加剂:改善流平性与耐磨性的纳米级胶态硅石
2. 电子封装材料:高纯度半导体用球形硅微粉
3. 医药辅料:符合USP/EP标准的片剂崩解剂
4. 化妆品原料:防晒剂及粘度调节用表面改性硅石
5. 橡胶塑料填料:提升力学性能的疏水型气相二氧化硅
6. 陶瓷前驱体:精密铸造用高分散性硅溶胶
检测方法
1. ASTM E2865-12:动态光散射法测定胶体颗粒尺寸分布
2. ISO 18757:2003:BET氮吸附法测定比表面积
3. GB/T 9724-2007:pH计法测定水溶液酸碱度
4. GB/T 19591-2004:X射线荧光光谱法测定二氧化硅含量
5. ISO 2555:2018:旋转粘度计法测试非牛顿流体粘度
6. GB/T 6284-2016:高温灼烧法测定挥发性物质含量
7. GB/T 30419-2013:电感耦合等离子体质谱法分析重金属
检测设备
1. Malvern Mastersizer 3000:激光衍射粒度分析仪(测量范围0.01-3500 μm)
2. Micromeritics ASAP 2460:全自动比表面及孔隙度分析仪(精度±1%)
3. Mettler Toledo SevenExcellence pH计:高精度电极(分辨率0.001 pH)
4. Shimadzu EDX-8000 XRF光谱仪:元素分析范围Na-U(检出限1 ppm)
5. Brookfield DV2T粘度计:锥板测量系统(扭矩范围0-100%)
6. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS:多元素同步分析(检出限ppt级)
7. Netzsch STA 449F3同步热分析仪:TG-DSC联用(温度范围25-1600℃)
8. Agilent Cary 630 FTIR光谱仪:ATR附件快速表征表面基团
9. JEOL JEM-2100F透射电镜:纳米级形貌观测(分辨率0.19 nm)
10. Sartorius MA35水分测定仪:卤素灯加热(精度0.001 g)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。